광운대, D램 테스트 신뢰성 높이는 기술 개발

[이데일리 신하영 기자] 광운대 연구진이 D램 반도체 테스트의 신뢰성을 높이는 기술 개발에 성공했다.

사진=광운대 제공

광운대는 채주형 전자통신공학과 교수팀이 이러한 성과를 거뒀다고 7일 밝혔다. 이번 연구는 과학기술정보통신부의 인공지능반도체 핵심기술개발사업 등의 지원을 받아 수행됐다. 연구 결과는 저명 국제학술지(EEE Transactions on Instrumentation and Measurement)에 게재됐다.

채주형 교수팀이 개발한 기술은 D램 양산 과정 중 하나인 저속 웨이퍼 테스트의 성능을 높이는 회로설계기술이다.

D램 반도체 공정에서 웨이퍼 테스트는 셀·회로 불량을 검출하기 위해 진행된다. 이를 위해선 측정 장비와 D램 셀 간의 안정적 테스트 결과들이 서로 송수신돼야 하는데 예기치 않은 오작동이 일어나게 되면 테스트의 신뢰성이 저하된다. 일반적으로 D램 회로는 고속으로 동작하기에 검증 시에도 고속 동작에 초점을 맞추는 데 이 경우 저속으로 동작하는 웨이퍼 테스트 과정에서 오작동이 발생할 수 있다.

채 교수팀이 개발한 기술은 이런 문제점을 해소하고 테스트의 신뢰성을 높일 수 있는 기술이다. 연구팀은 “해당 기술이 D램 관련 회로에 적용되면 향후 테스트 신뢰성을 향상시킬 수 있을 것”이라고 기대했다.